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Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) for Semiconductor Design Environments
Automatische name übersetzung:
Standard für Erweiterungen zu Standard Test Interface Language (STIL) zum Entwurf Umgebungen
NORM herausgegeben am 7.11.2007
Bezeichnung normen: IEC 62526-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 7.11.2007
SKU: NS-414729
Zahl der Seiten: 123
Gewicht ca.: 400 g (0.88 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
Provides an interface between digital test generation tools and test equipment. A test description language is defined that:(a) facilitates the transfer of digital test vector data from CAE to ATE environments;(b) specifies patten, format, and timing information sufficant to define the application of digital test vectors to a DUT;and (c) supports the volume of test vector data generated from structured tests.
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