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IEC 62860-ed.1.0
Test methods for the characterization of organic transistors and materials
Automatische name übersetzung:
Testverfahren zur Charakterisierung von organischen Transistoren und Materialien
NORM herausgegeben am 5.8.2013
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: IEC 62860-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 5.8.2013
SKU: NS-414921
Zahl der Seiten: 23
Gewicht ca.: 69 g (0.15 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
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Die Annotation des Normtextes IEC 62860-ed.1.0 :
IEC 62860:2013(E) covers recommended methods and standardized reporting practices for electrical characterization of printed and organic transistors. Due to the nature of printed and organic electronics, significant measurement errors can be introduced if the electrical characterization design-of-experiment is not properly addressed. This standard describes the most common sources of measurement error, particularly for high-impedance electrical measurements commonly required for printed and organic transistors. This standard also gives recommended practices in order to minimize and/or characterize the effect of measurement artifacts and other sources of error encountered while measuring printed and organic transistors. Keywords: electrical characterization, FET, flexible electronics, high impedance, nanocomposite, nanotechnology, OFET, organic electronics, organic transistor, printed electronics, printing, transistor
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