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Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 7: Test method for characterizing the barrier performance of thin film encapsulation for flexible organic semiconductor
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NORM herausgegeben am 27.2.2019
Bezeichnung normen: IEC 62951-7-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 27.2.2019
SKU: NS-938050
Zahl der Seiten: 28
Gewicht ca.: 84 g (0.19 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
IEC 62951-7:2019 specifies evaluation conditions and gives a method of measurement as well as a test set-up for the measurement of barrier performance for thin-film layer with ultra-low permeation rate under both flat and bending conditions. This document also includes the preparation of specimen, electrical contacts, sensor films and calculation procedures. For these purposes, this document provides terms, definitions, symbols, configurations, and test methods including test conditions such as temperature, relative humidity, testing time. L’IEC 62951-7:2019 specifie des conditions d’evaluation et fournit une methode de mesure ainsi qu’un montage d’essai pour la mesure de performance des barrieres en couches minces a vitesse de permeation ultra faible, a la fois a plat et en conditions de flexion. Le present document comprend egalement la preparation de l’eprouvette, les contacts electriques, les couches de detecteur et les modes operatoires de calcul. A cet effet, le present document fournit des termes, des definitions, des symboles, des configurations et des methodes d’essai, y compris des conditions d’essai telles que la temperature, l’humidite relative et la duree d’essai.
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Letzte Aktualisierung: 2025-01-19 (Zahl der Positionen: 2 221 213)
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