Cookies
Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
IEC 62951-8-ed.1.0
Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 8: Test method for stretchability, flexibility, and stability of flexible resistive memory
Name übersetzen
NORM herausgegeben am 19.1.2023
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: IEC 62951-8-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 19.1.2023
SKU: NS-1102311
Zahl der Seiten: 14
Gewicht ca.: 42 g (0.09 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
Kategorie - ähnliche Normen:
Die Annotation des Normtextes IEC 62951-8-ed.1.0 :
IEC 62951-8:2023 (E) defines terms and specifies the test method for evaluating the stretchability, flexibility, and stability of flexible resistive memory. The test method descriptions include experimental procedures and the equipment to be used. It also includes general requirements for test conditions such as the temperature and relative humidity of the testing environment. The test method described in this document focuses on stability evaluation rather than reliability.
Empfehlungen:
Aktualisierung der technischen Normen
Wollen Sie sich sicher sein, dass Sie nur die gültigen technischen Normen verwenden?
Wir bieten Ihnen eine Lösung, die Ihnen eine Monatsübersicht über die Aktualität der von Ihnen angewandten Normen sicher stellt.
Brauchen Sie mehr Informationen? Sehen Sie sich diese Seite an.
