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Standard for the common test interface pin map configuration for high-density, single-tier electronics test requirements utilizing IEEE Std 1505™
Automatische name übersetzung:
Norm für die gemeinsamen Testschnittstellenstift Map-Konfiguration für High-Density, einreihige Elektronik Testanforderungen Verwendung IEEE Std 1505 & trade;
NORM herausgegeben am 14.12.2015
Bezeichnung normen: IEC 63003-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 14.12.2015
SKU: NS-623069
Zahl der Seiten: 162
Gewicht ca.: 517 g (1.14 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
IEC 63003:2015(E) the scope is the definition of a pin map utilizing the IEEE 1505 receiver fixture interface (RFI). The pin map defined within this standard shall apply to military and aerospace automatic test equipment (ATE) testing applications.
Letzte Aktualisierung: 2024-12-22 (Zahl der Positionen: 2 217 000)
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