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Standard for the common test interface pin map configuration for high-density, single-tier electronics test requirements utilizing IEEE Std 1505™
Automatische name übersetzung:
Norm für die gemeinsamen Testschnittstellenstift Map-Konfiguration für High-Density, einreihige Elektronik Testanforderungen Verwendung IEEE Std 1505 & trade;
NORM herausgegeben am 14.12.2015
Bezeichnung normen: IEC 63003-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 14.12.2015
SKU: NS-623069
Zahl der Seiten: 162
Gewicht ca.: 517 g (1.14 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
IEC 63003:2015(E) the scope is the definition of a pin map utilizing the IEEE 1505 receiver fixture interface (RFI). The pin map defined within this standard shall apply to military and aerospace automatic test equipment (ATE) testing applications.
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Letzte Aktualisierung: 2025-03-14 (Zahl der Positionen: 2 232 255)
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