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Integrated circuits - Three dimensional integrated circuits - Part 1: Terminology
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NORM herausgegeben am 28.11.2018
Bezeichnung normen: IEC 63011-1-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 28.11.2018
SKU: NS-906033
Zahl der Seiten: 24
Gewicht ca.: 72 g (0.16 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
IEC 63011-1:2018 provides definitions pertaining to multichip integrated circuits, as vertically stacked dies using through-silicon vias (TSVs) or micro bumps. Terms and definitions related to the fabrication and test of the multichip integrated circuits are also provided. LIEC 63011-1:2018 donne des definitions relatives aux circuits integres multipuces constitues de puces empilees verticalement a laide de trous de liaison a travers le silicium ou de microbosses. Des termes et definitions relatifs a la fabrication et aux essais des circuits integres multipuces sont egalement fournis.
Letzte Aktualisierung: 2025-03-13 (Zahl der Positionen: 2 232 199)
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