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Device embedded substrate - Part 2-2: Guidelines - Electrical testing
Automatische name übersetzung:
Gerät eingebettet Substrat - Teil 2-2: Richtlinien - Elektrische Prüfung
NORM herausgegeben am 4.12.2015
Bezeichnung normen: IEC/TR 62878-2-2-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 4.12.2015
SKU: NS-623041
Zahl der Seiten: 29
Gewicht ca.: 87 g (0.19 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
IEC TR 62878-2-2:2015 describes the necessary information on electrical testing for device embedded substrate. This includes the interconnection open- and short-circuit tests as well as the device functional test. It also provides guidelines by demonstrating the electrical test for device embedded substrate. LIEC 62878-2-2:2015 decrit les informations necessaires aux essais electriques de substrat avec appareil(s) integre(s). Elle decrit en outre les essais dinterconnexion en circuit ouvert et en court-circuit et lessai fonctionnel de lappareil. Elle fournit egalement des directives de demonstration des essais electriques de substrat avec appareil(s) integre(s).
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Letzte Aktualisierung: 2024-09-04 (Zahl der Positionen: 2 346 114)
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