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IEC/TR 62878-2-7-ed.1.0
Device embedding assembly technology - Part 2-7: Guidelines - Accelerated stress testing of passive embedded circuit boards
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NORM herausgegeben am 20.3.2019
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: IEC/TR 62878-2-7-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 20.3.2019
SKU: NS-945084
Zahl der Seiten: 12
Gewicht ca.: 36 g (0.08 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
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Die Annotation des Normtextes IEC/TR 62878-2-7-ed.1.0 :
IEC TR 62878-2-7:2019 (E) describes the accelerated stress testing of passive embedded circuit boards. It can be used for screening finished boards, including multilayer and high-density interconnection (HDI) boards. These boards are mainly for mobile devices.
