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IEC/TR 63357-ed.1.0
Semiconductor devices - Standardization roadmap of fault test method for automotive vehicles
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NORM herausgegeben am 11.10.2022
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: IEC/TR 63357-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 11.10.2022
SKU: NS-1091998
Zahl der Seiten: 14
Gewicht ca.: 42 g (0.09 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
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Die Annotation des Normtextes IEC/TR 63357-ed.1.0 :
IEC TR 63357:2022(E) describes standardization roadmap of fault test methods for integrated circuits used in automotive vehicles. Since automotive vehicles are exposed in harsh environment such as very low or high temperature, vibration, high frequency signals, etc. Therefore, they are tested for possible faults which can be caused by harsh environment. There are several fault test methods and related issues to be standardized. Semiconductor devices used in automotive vehicles are exposed in harsh environment of very high or very low temperature, vibration, high frequency signals, etc. Therefore, they are tested for possible faults which can be caused by harsh environment Evaluation results following this fault test methods will provide robustness of the semiconductor device.
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