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Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-17: Graphene-based material - Order parameter: X-ray diffraction and transmission electron microscopy
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NORM herausgegeben am 3.5.2023
Bezeichnung normen: IEC/TS 62607-6-17-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 3.5.2023
SKU: NS-1142984
Zahl der Seiten: 24
Gewicht ca.: 72 g (0.16 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
IEC TS 62607-6-17:2023 establishes a standardized method to determine the key control characteristic order parameter for graphene-based material and layered carbon material by X-ray diffraction (XRD) and transmission electron microscopy. The order parameter is analysed from two perspectives: z-axis and x-y-axis. In the z-axis the order parameter is derived from the full width at half maximum (FWHM) of peak (002) in the XRD spectrum. In the x-y-axis, it is derived from the FWHM of peak (100) corresponding to diffraction patterns obtained by SAED (selected area electron diffraction) technique, which is routinely performed on most transmission electron microscopes in the world. The method is applicable for graphene-based material and layered carbon material including graphite, expanded graphite, amorphous carbon, vitreous carbon or glassy carbon, the structures of which are clarified by other characterization techniques. The method is applicable for differentiating few-layer graphene or reduced graphene oxide from layered carbon material. Typical application area is quality control in manufacturing to ensure batch-to-batch reproducibility. NOTE Graphene oxide, one type of graphene-based material, is not within the scope of this document.
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Letzte Aktualisierung: 2024-09-09 (Zahl der Positionen: 2 346 212)
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