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IEC/TS 62804-1-1-ed.1.0
Photovoltaic (PV) modules - Test methods for the detection of potential-induced degradation - Part 1-1: Crystalline silicon - Delamination
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NORM herausgegeben am 10.1.2020
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: IEC/TS 62804-1-1-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 10.1.2020
SKU: NS-980807
Zahl der Seiten: 16
Gewicht ca.: 48 g (0.11 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
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Die Annotation des Normtextes IEC/TS 62804-1-1-ed.1.0 :
IEC 62804-1-1:2020 defines procedures to test and evaluate for potential-induced degradation-delamination (PID-d) mode in the laminate of crystalline silicon PV modules-principally those with one or two glass faces. This document evaluates delamination attributable to current transfer between ground and the module cell circuit. Elements driving the delamination that this test is designed to actuate include reduced adhesion associated with damp heat exposure, sodium accumulation at interfaces, and cathodic gas evolution in the cell circuit, metallization, and other components within the PV module activated by the voltage potential. The change in power of crystalline silicon PV modules associated with the stress factors applied (the purview of IEC TS 62804-1) is not considered in the scope.
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