Cookies
Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
IEC/TS 62804-2-ed.1.0
Photovoltaic (PV) modules - Test methods for the detection of potential-induced degradation - Part 2: Thin-film
Name übersetzen
NORM herausgegeben am 29.3.2022
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: IEC/TS 62804-2-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 29.3.2022
SKU: NS-1052618
Zahl der Seiten: 44
Gewicht ca.: 132 g (0.29 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
Kategorie - ähnliche Normen:
Die Annotation des Normtextes IEC/TS 62804-2-ed.1.0 :
IEC TS 62804-2:2022 defines apparatus and procedures to test and evaluate the durability of photovoltaic (PV) modules to power loss by the effects of high voltage stress in a damp heat environment, referred to as potential-induced degradation (PID). This document defines a test method that compares the coulomb transfer between the active cell circuit and ground through the module packaging under voltage stress during accelerated stress testing with the coulomb transfer during outdoor testing to determine an acceleration factor for the PID. This document tests for the degradation mechanisms involving mobile ions influencing the electric field over the semiconductor absorber layer or electronically interacting with the films such that module power is affected.
Empfehlungen:
Aktualisierung der technischen Normen
Wollen Sie sich sicher sein, dass Sie nur die gültigen technischen Normen verwenden?
Wir bieten Ihnen eine Lösung, die Ihnen eine Monatsübersicht über die Aktualität der von Ihnen angewandten Normen sicher stellt.
Brauchen Sie mehr Informationen? Sehen Sie sich diese Seite an.
