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Photovoltaic cells - Part 2: Electroluminescence imaging of crystalline silicon solar cells
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NORM herausgegeben am 16.12.2021
Bezeichnung normen: IEC/TS 63202-2-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 16.12.2021
SKU: NS-1045528
Zahl der Seiten: 19
Gewicht ca.: 57 g (0.13 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
IEC TS 63202-2:2021 specifies methods to detect and examine defects on bare crystalline silicon (c-Si) solar cells by means of electroluminescence (EL) imaging with the cell being placed in forward bias. It firstly provides guidelines for methods to capture electroluminescence images of non-encapsulated c-Si solar cells. In addition, it provides a list of defects which can be detected by EL imaging and provides information on the different possible methods to detect and differentiate such defects.
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Letzte Aktualisierung: 2025-01-12 (Zahl der Positionen: 2 218 564)
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