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IEC/TS 63342-ed.1.0
C-Si photovoltaic (PV) modules - Light and elevated temperature induced degradation (LETID) test - Detection
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NORM herausgegeben am 20.7.2022
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: IEC/TS 63342-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 20.7.2022
SKU: NS-1069201
Zahl der Seiten: 13
Gewicht ca.: 39 g (0.09 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
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Die Annotation des Normtextes IEC/TS 63342-ed.1.0 :
IEC TS 63342:2022 is designed to assess the effect of light induced degradation at elevated temperatures (LETID) by application of electrical current at higher temperatures. In this document, only the current injection approach for the detection of LETID is addressed. This document does not address the B-O and Iron Boron (Fe-B) related degradation phenomena, which already occur at room temperatures under the presence of light and on much faster time scales. The proposed test procedure can reveal sample sensitivity to LETID degradation mechanisms, but it does not provide an exact measure of field observable degradation.
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