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IEEE Standard for a Mixed-Signal Test Bus
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NORM herausgegeben am 6.12.2024
Bezeichnung normen: IEEE 1149.4-2024
Ausgabedatum normen: 6.12.2024
SKU: NS-1207690
Zahl der Seiten: 116
Gewicht ca.: 379 g (0.84 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEEE
Revision Standard - Active.
The testability structure for digital circuits described in IEEE Std 1149.1™ has been extended to provide similar facilities for mixed-signal circuits. The architecture is described, together with the means of control of and access to, both analog and digital test data. Sample implementation and application details (which are not part of the standard) are included for illustration. Also, extensions to the standard Boundary-Scan Description Language (BSDL) are defined that allow description of key component-specific aspects of such testability features.
ISBN: 979-8-8557-1465-4, 979-8-8557-1466-1
Number of Pages: 116
Product Code: STD27490, STDPD27490
Keywords: analog test, board testing, boundary scan, Boundary-Scan Description Language (BSDL), design for testability, IEEE 1149.4™, in-circuit test, mixed-signal test
Category: Test Technology
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Letzte Aktualisierung: 2025-01-29 (Zahl der Positionen: 2 222 134)
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