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IEEE Standard for Semiconductor Memory Test Pattern Language
Automatische name übersetzung:
IEEE-Standard für die Halbleiterspeicher-Test Pattern Language
NORM herausgegeben am 18.2.1986
Bezeichnung normen: IEEE 660-1986
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 18.2.1986
SKU: NS-634564
Gewicht ca.: 300 g (0.66 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEEE
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Letzte Aktualisierung: 2024-07-21 (Zahl der Positionen: 2 338 123)
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