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IEEE Standard Test Methods for Avalanche Junction Semiconductor Surge-Protective Device Components
Automatische name übersetzung:
IEEE Standard-Prüfverfahren für Avalanche Junction Semiconductor Überspannungsschutzgerätekomponenten
NORM herausgegeben am 31.8.2010
Bezeichnung normen: IEEE C62.35-2010
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 31.8.2010
SKU: NS-417567
Zahl der Seiten: 26
Gewicht ca.: 78 g (0.17 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEEE
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Letzte Aktualisierung: 2025-01-14 (Zahl der Positionen: 2 219 679)
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