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IEC 62528 Ed. 1 (IEEE Std 1500(TM)-2005): Standard Testability Method for Embedded Core-based Integrated Circuits
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IEC 62528 Ed. 1 (IEEE Std 1500 (TM) -2005): Standard Testability-Methode für Embedded-Core-basierte Integrierte Schaltungen
NORM herausgegeben am 9.12.2007
Bezeichnung normen: IEEE/IEC 62528-2007
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 9.12.2007
SKU: NS-415153
Gewicht ca.: 300 g (0.66 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEEE
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Letzte Aktualisierung: 2024-07-22 (Zahl der Positionen: 2 338 152)
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