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IEEE P1149.4
IEEE Approved Draft Standard for a Mixed-Signal Test Bus
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NORM herausgegeben am 25.12.2024
| Zugänglichkeit | Ausverkauft |
| Preis | AUFANFRAGE ohne MWS |
| AUF ANFRAGE |
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: IEEE P1149.4
Ausgabedatum normen: 25.12.2024
SKU: NS-1203722
Gewicht ca.: 300 g (0.66 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Die Annotation des Normtextes IEEE P1149.4 :
Revision Standard - Active - Draft.
The testability structure for digital c 1 ircuits described in IEEE Std 1149.1 has been extended to provide similar facilities for mixed-signal circuits. The architecture is described, together with the means of control of and access to, both analog and digital test data. Sample implementation and application details (which are not part of the standard) are included for illustration. Also, extensions to the standard BSDL are defined that allow description of key component-specific aspects of such testability features.
ISBN: 979-8-8557-0776-2, 979-8-8557-0776-2
Number of Pages: 110
Product Code: STDUD26965, STDAPE26965
Keywords: analog test, board testing, boundary scan, BSDL, design for testability, IEEE 1149.4, in-circuit test, mixed-signal test
Category: Test Technology
Draft Number: P1149.4/D2, Feb 2024 - UNAPPROVED DRAFT, P1149.4/D2, Feb 2024 - APPROVED DRAFT
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