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ISO 6342:2003-ed.2.0
Micrographics — Aperture cards — Method of measuring thickness of buildup area
Automatische name übersetzung:
Mikrographie - Lochkarten - Verfahren zur Messung der Dicke der Aufbau Bereich
NORM herausgegeben am 15.7.2003
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ISO 6342:2003-ed.2.0
Ausgabedatum normen: 15.7.2003
SKU: NS-433754
Zahl der Seiten: 3
Gewicht ca.: 9 g (0.02 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen ISO
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Die Annotation des Normtextes ISO 6342:2003-ed.2.0 :
Description / Abstract: ISO 6342:2003 specifies a method of measuring the thickness of the buildup area on aperture cards (camera and copy cards) for manufacturing and inspection purposes.
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