Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
Discrete semiconductor devices and integrated circuits. Part 5-3: Optoelectronic devices. Measuring methods
Automatische name übersetzung:
Diskrete Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen. Teil 5-3 : Optoelektronische Komponenten. Messverfahren (IEC STN).
NORM herausgegeben am 1.11.2002
Sprache | |
Realisierung |
|
Zugänglichkeit | Der Verkauf wurde beendet |
Preis | AUF ANFRAGE ohne MWS |
AUF ANFRAGE |
Bezeichnung normen: STN EN 60747-5-3:2002/A1
Zeichen: 358797
Katalog-Nummer: 88591
Anmerkung: Änderung
Ausgabedatum normen: 1.11.2002
SKU: NS-528284
Zahl der Seiten: 15
Gewicht ca.: 45 g (0.10 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN
Discrete semiconductor devices and integrated circuits. Part 5-3: Optoelectronic devices. Measuring methods
Die Norm herausgegeben am 1.4.2002
Ausgewählte Ausführung:Letzte Aktualisierung: 2024-07-26 (Zahl der Positionen: 2 339 085)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.