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STN EN 60747-5-3:2002/A1 (358797)
Discrete semiconductor devices and integrated circuits. Part 5-3: Optoelectronic devices. Measuring methods
Automatische name übersetzung:
Diskrete Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen. Teil 5-3 : Optoelektronische Komponenten. Messverfahren (IEC STN).
NORM herausgegeben am 1.11.2002
| Sprache | |
| Realisierung |
|
| Zugänglichkeit | Der Verkauf wurde beendet |
| Preis | AUFANFRAGE ohne MWS |
| AUF ANFRAGE |
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: STN EN 60747-5-3:2002/A1
Zeichen: 358797
Katalog-Nummer: 88591
Anmerkung: Änderung
Ausgabedatum normen: 1.11.2002
SKU: NS-528284
Zahl der Seiten: 15
Gewicht ca.: 45 g (0.10 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN
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Discrete semiconductor devices and integrated circuits. Part 5-3: Optoelectronic devices. Measuring methods
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Ausgewählte Ausführung: Englisch - Gedruckt (AUF ANFRAGE)
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