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STN EN 60749-30 (358799)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
Automatische name übersetzung:
Halbleitervorrichtungen. Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Teil 30: Vorbehandlung der nicht hermetischen oberflächenmontierbaren Komponenten vor der Prüfung der Sicherheit (IEC STN).
NORM herausgegeben am 1.9.2005
| Realisierung |
|
| Zugänglichkeit | Der Verkauf wurde beendet |
| Preis | AUFANFRAGE ohne MWS |
| AUF ANFRAGE |
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: STN EN 60749-30
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 99238
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.9.2005
SKU: NS-528322
Zahl der Seiten: 16
Gewicht ca.: 48 g (0.11 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN
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