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Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)
Automatische name übersetzung:
Testen der Auswirkungen der Temperatur auf die Stabilität von Feldeffekttransistoren mit Metall-Oxid-Halbleiter (MOSFET) (IEC STN).
NORM herausgegeben am 1.5.2007
Sprache | |
Realisierung |
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Zugänglichkeit | Der Verkauf wurde beendet |
Preis | AUF ANFRAGE ohne MWS |
AUF ANFRAGE |
Bezeichnung normen: STN EN 62373
Zeichen: 358794
Katalog-Nummer: 103447
Ausgabedatum normen: 1.5.2007
SKU: NS-532086
Zahl der Seiten: 20
Gewicht ca.: 60 g (0.13 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN
UNGÜLTIG
1.1.1975
1.10.2010
1.10.2010
1.10.2010
1.11.2010
1.9.2014
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Letzte Aktualisierung: 2024-09-25 (Zahl der Positionen: 2 350 354)
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