Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
Optical metrology of microtopographies - Calibration of interferometers and interference microscopes for form measurement.
Name übersetzen
NORM herausgegeben am 1.2.2020
Bezeichnung normen: VDI/VDE 2655Blatt1.3
Ausgabedatum normen: 1.2.2020
SKU: NS-981608
Zahl der Seiten: 50
Gewicht ca.: 150 g (0.33 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen VDI
Optische Messtechnik an Mikrotopografien - Kalibrieren von flächenhaft messenden Interferometern und Interferenzmikroskopen für die Formmessung.
Wollen Sie sich sicher sein, dass Sie nur die gültigen technischen Vorschriften verwenden?
Wir bieten Ihnen Lösungen, damit Sie immer nur die gültigen (aktuellen) legislativen Vorschriften verwenden könnten.
Brauchen Sie mehr Informationen? Sehen Sie sich diese Seite an.
Letzte Aktualisierung: 2024-08-01 (Zahl der Positionen: 2 341 429)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.