Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock
NORM herausgegeben am 1.4.2003
Bezeichnung normen: ČSN EN 60749-10
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 66849
Ausgabedatum normen: 1.4.2003
Zahl der Seiten: 4
Gewicht ca.: 12 g (0.03 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN
Tato část normy IEC 60749 popisuje zkoušku úderem, určenou ke zjištění vhodnosti součástek pro použití v elektronických zařízeních, které mohou být vystaveny mírně přerušovaným úderům, jako výsledek náhle působících sil nebo prudkých změn pohybu způsobených hrubým zacházením, dopravou, nebo oblastí působení. Údery tohoto typu mohou narušit provozní charakteristiky, obzvláště, jestliže se impulsy úderů opakují. Toto je destruktivní zkouška. Obvykle je vhodná pro pouzdra s dutinou. Obecně je zkouška mechanickými údery shodná s IEC 60068-2-27, ale vzhledem ke specifickým požadavkům polovodičů, platí články této normy.