ČSN EN 60749-3 (358799)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examinationt

NORM herausgegeben am 1.4.2003

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ČSN EN 60749-3
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 66855
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.4.2003
Zahl der Seiten: 4
Gewicht ca.: 12 g (0.03 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN