ČSN EN 60749-8 (358799)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing

NORM herausgegeben am 1.12.2003

Englisch (nur die Titelseite ist in der tschechischen Sprache) -
Gedruckt (17.40 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ČSN EN 60749-8
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 68968
Ausgabedatum normen: 1.12.2003
Zahl der Seiten: 44
Gewicht ca.: 132 g (0.29 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN

Die Annotation des Normtextes ČSN EN 60749-8 (358799):

Tato část normy IEC 60749 je vhodná pro polovodičové součástky (diskrétní součástky a integrované obvody). Předmětem této zkušební metody je určit rychlost úniku pro polovodičové součástky.
Tato zkouška je identická se zkouškou obsaženou v článku 5, kapitoly 3, IEC 60749 (1996), změně 2, nehledě na doplněk tohoto článku a článku 2 a následující přečíslování.