Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation
NORM herausgegeben am 1.11.2019
Designation standards: ČSN EN IEC 60749-17-ed.2
Classification mark: 358799
Catalog number: 508691
Publication date standards: 1.11.2019
The number of pages: 16
Approximate weight : 48 g (0.11 lbs)
Country: Czech technical standard
Kategorie: Technische Normen ČSN
Zkouška neutronovým zářením se provádí, aby se určila citlivost polovodičových součástek na degradaci vlivem neionizující ztráty energie (NIEL). Zkouška, která je zde popisována, je vhodná pro integrované obvody a diskrétní polovodičové součástky. Je určena pro vojenské a kosmické účely. Je to destruktivní zkouška.
Cíle zkoušky jsou tyto:
a) zjistit a změřit degradaci kritických parametrů polovodičové součástky, jako funkci působení proudu neutronů, a
b) určit, jestli stanovené parametry polovodičové součástky jsou ve stanovených mezích po vystavení účinku proudu neutronů stanovené úrovně (viz kapitola 6)