NORMSERVIS s.r.o.

STN 356575 (356575)

Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers

NORM herausgegeben am 1.3.1991

Tschechisch -
Gedruckt (AUF ANFRAGE)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: STN 356575
Zeichen: 356575
Katalog-Nummer: 58995
Ausgabedatum normen: 1.3.1991
Zahl der Seiten: 68
Gewicht ca.: 204 g (0.45 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN