ASTM E1127-08

Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron Spectroscopy

Automatische name übersetzung:

Standard-Handbuch für Tiefenprofilierung in Auger Elektronenspektroskopie



NORM herausgegeben am 1.10.2008


Sprache
Realisierung
ZugänglichkeitAUF LAGER
Preis76.30 ohne MWS
76.30

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM E1127-08
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.10.2008
SKU: NS-40554
Zahl der Seiten: 5
Gewicht ca.: 15 g (0.03 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM E1127-08 :

Keywords:

angle lapping, angle-resolved AES, Auger electron spectroscopy, ball cratering, compositional depth profiling, cross sectioning, depth profiling, depth resolution, sputter depth profiling, sputtering, thin films, Surface analysis--spectrochemical analysis, Angle lapping and staining technique, Argon atmospheres, Auger electron spectroscopy (AES), Ball cratering, Crater edge profiling, Depth profiling, Gases, Ion sputtering, Noble gas ions, Nondestructive evaluation (NDE), Polishing properties

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