ASTM E1438-11(2019)

Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS

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NORM herausgegeben am 1.11.2019


Sprache
Realisierung
ZugänglichkeitAUF LAGER
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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM E1438-11(2019)
Ausgabedatum normen: 1.11.2019
SKU: NS-976108
Zahl der Seiten: 3
Gewicht ca.: 9 g (0.02 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Kategorie - ähnliche Normen:

Semiconducting materials

Die Annotation des Normtextes ASTM E1438-11(2019) :

Keywords:

ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)

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