ASTM E2245-11

Standard Test Method for Residual Strain Measurements of Thin, Reflecting Films Using an Optical Interferometer

Automatische name übersetzung:

Standard Test Method for Residual Dehnungsmessungen von dünnen, reflektierenden Filme unter Verwendung eines optischen Interferometers



NORM herausgegeben am 1.11.2011


Sprache
Realisierung
ZugänglichkeitAUF LAGER
Preis109.10 ohne MWS
109.10

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM E2245-11
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.11.2011
SKU: NS-44782
Zahl der Seiten: 24
Gewicht ca.: 72 g (0.16 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM E2245-11 :

Keywords:

cantilevers, combined standard uncertainty, fixed-fixed beams, interferometry, length measurements, microelectromechanical systems, MEMS, polysilicon, residual strain, stiction, strain gradient, test structure, ICS Number Code 37.040.20 (Photographic paper, film and plates. Cartridges)

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