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ČSN EN 60749-23:2004/A1 (358799)
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 23: Zkouška životnosti při zvýšené teplotě. (Norma přebírající anglický originál, vlastní text je součástí výtisku).
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Lebensdauertest bei erhöhter Temperatur. ( In Englisch, ist der Text Teil einer Kopie ).
NORM herausgegeben am 1.11.2011
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ČSN EN 60749-23:2004/A1
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 89373
Anmerkung: Änderung
Ausgabedatum normen: 1.11.2011
SKU: NS-158219
Zahl der Seiten: 12
Gewicht ca.: 36 g (0.08 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN
Kategorie - ähnliche Normen:
Diese Änderung (Korrektur) bezieht sich auf diese Norm:
ČSN EN 60749-23 (358799)
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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
Die Norm herausgegeben am 1.12.2004
Ausgewählte Ausführung: Englisch (nur die Titelseite ist in der tschechischen Sprache) - Gedruckt (13.30 EUR)
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