Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Der Haltbarkeitstest bei erhöhter Temperatur. (Nur in Englisch, ist der Text Teil einer Kopie).
NORM herausgegeben am 1.12.2004
Bezeichnung normen: ČSN EN 60749-23
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 71680
Ausgabedatum normen: 1.12.2004
SKU: NS-158220
Zahl der Seiten: 24
Gewicht ca.: 72 g (0.16 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN
Tato zkouška se používá k určení vlivů podmínek předpětí a teploty na pevné součástky v čase. Zkouška simuluje pracovní podmínky součástky zrychleným způsobem a přednostně se používá pro kvalifikaci součástek a monitorování spolehlivosti. Forma předpětí při vyšší teplotě, které má krátké trvání, je obecně známá jako "zahořování" a může být použita k vytřídění poruch, které se vztahují k časné úmrtnosti. Podrobné využití a aplikace zahořování je mimo předmět této normy.
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 23: Zkouška životnosti při zvýšené teplotě. (Norma přebírající anglický originál, vlastní text je součástí výtisku).
Änderung herausgegeben am 1.11.2011
Ausgewählte Ausführung:1.12.2011
1.12.2003
1.12.2004
1.6.2004
UNGÜLTIG
1.3.2007
1.3.2007
Letzte Aktualisierung: 2025-03-03 (Zahl der Positionen: 2 231 424)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.