Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Der Haltbarkeitstest bei erhöhter Temperatur. (Nur in Englisch, ist der Text Teil einer Kopie).
NORM herausgegeben am 1.12.2004
Bezeichnung normen: ČSN EN 60749-23
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 71680
Ausgabedatum normen: 1.12.2004
SKU: NS-158220
Zahl der Seiten: 24
Gewicht ca.: 72 g (0.16 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN
Tato zkouška se používá k určení vlivů podmínek předpětí a teploty na pevné součástky v čase. Zkouška simuluje pracovní podmínky součástky zrychleným způsobem a přednostně se používá pro kvalifikaci součástek a monitorování spolehlivosti. Forma předpětí při vyšší teplotě, které má krátké trvání, je obecně známá jako "zahořování" a může být použita k vytřídění poruch, které se vztahují k časné úmrtnosti. Podrobné využití a aplikace zahořování je mimo předmět této normy.
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 23: Zkouška životnosti při zvýšené teplotě. (Norma přebírající anglický originál, vlastní text je součástí výtisku).
Änderung herausgegeben am 1.11.2011
Ausgewählte Ausführung:1.12.2011
1.12.2003
1.12.2004
1.6.2004
UNGÜLTIG
1.3.2007
1.3.2007
Bereitstellung von aktuellen Informationen über legislative Vorschriften in der Sammlung der Gesetze bis zum Jahr 1945.
Aktualisierung 2x pro Monat!
Brauchen Sie mehr Informationen? Sehen Sie sich diese Seite an.
Letzte Aktualisierung: 2024-11-22 (Zahl der Positionen: 2 206 568)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.