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STN 356575 (356575)
Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers
Automatische name übersetzung:
Energie-Röntgen-Spektrometer mit Halbleiterdetektoren. Testmethoden.
NORM herausgegeben am 1.3.1991
| Sprache | |
| Realisierung |
|
| Zugänglichkeit | Der Verkauf wurde beendet |
| Preis | AUF ANFRAGE ohne MWS |
| AUF ANFRAGE |
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: STN 356575
Zeichen: 356575
Katalog-Nummer: 58995
Ausgabedatum normen: 1.3.1991
SKU: NS-495633
Zahl der Seiten: 68
Gewicht ca.: 204 g (0.45 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN
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