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STN EN 60749-3 (358799)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 3: External visual examination
Automatische name übersetzung:
Halbleitervorrichtungen. Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Teil 3: Äußere Sichtprüfung (IEC STN).
NORM herausgegeben am 1.2.2003
| Realisierung |
|
| Zugänglichkeit | Der Verkauf wurde beendet |
| Preis | AUFANFRAGE ohne MWS |
| AUF ANFRAGE |
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: STN EN 60749-3
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 89304
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.2.2003
SKU: NS-528320
Zahl der Seiten: 2
Gewicht ca.: 6 g (0.01 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN
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