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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
Automatische name übersetzung:
Halbleitervorrichtungen. Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Teil 4: Feuchte Wärme, konstant hohe Beschleunigungstest (IEC STN).
NORM herausgegeben am 1.2.2003
Realisierung |
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Zugänglichkeit | Der Verkauf wurde beendet |
Preis | AUFANFRAGE ohne MWS |
AUF ANFRAGE |
Bezeichnung normen: STN EN 60749-4
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 89305
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.2.2003
SKU: NS-528334
Zahl der Seiten: 27
Gewicht ca.: 81 g (0.18 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN
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Letzte Aktualisierung: 2024-12-22 (Zahl der Positionen: 2 217 000)
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