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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 8: Sealing
Automatische name übersetzung:
Halbleitervorrichtungen. Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Teil 8: Dicht (IEC STN).
NORM herausgegeben am 1.1.2004
Sprache | |
Realisierung |
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Zugänglichkeit | Der Verkauf wurde beendet |
Preis | AUFANFRAGE ohne MWS |
AUF ANFRAGE |
Bezeichnung normen: STN EN 60749-8
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 92828
Ausgabedatum normen: 1.1.2004
SKU: NS-528341
Zahl der Seiten: 20
Gewicht ca.: 60 g (0.13 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN
1.9.2002
1.11.2011
UNGÜLTIG
1.5.2008
1.2.2008
1.8.2011
1.6.2010
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Letzte Aktualisierung: 2024-12-22 (Zahl der Positionen: 2 217 000)
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