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Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 2: Tensile testing method of thin film materials
Automatische name übersetzung:
Halbleitervorrichtungen. Elektromechanische Mikrobauteile. Teil 2: Prüfverfahren von Dünnschichtmaterialien Festigkeit (IEC STN).
NORM herausgegeben am 1.6.2007
Sprache | |
Realisierung |
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Zugänglichkeit | Der Verkauf wurde beendet |
Preis | AUF ANFRAGE ohne MWS |
AUF ANFRAGE |
Bezeichnung normen: STN EN 62047-2
Zeichen: 358792
Katalog-Nummer: 103752
Ausgabedatum normen: 1.6.2007
SKU: NS-531597
Zahl der Seiten: 20
Gewicht ca.: 60 g (0.13 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN
1.8.2011
1.12.2011
1.12.2011
1.2.2014
1.3.2012
1.8.2012
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Letzte Aktualisierung: 2024-07-31 (Zahl der Positionen: 2 340 060)
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