Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 3: Thin film standard test piece for tensile testing
Automatische name übersetzung:
Halbleitervorrichtungen. Elektromechanische Mikrobauteile. Teil 3: Dünnschicht-Standardteststücke für den Zugversuch (IEC STN).
NORM herausgegeben am 1.6.2007
Sprache | |
Realisierung |
|
Zugänglichkeit | Der Verkauf wurde beendet |
Preis | AUFANFRAGE ohne MWS |
AUF ANFRAGE |
Bezeichnung normen: STN EN 62047-3
Zeichen: 358792
Katalog-Nummer: 103753
Ausgabedatum normen: 1.6.2007
SKU: NS-531601
Zahl der Seiten: 15
Gewicht ca.: 45 g (0.10 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN
UNGÜLTIG
1.4.2009
UNGÜLTIG
1.4.2007
1.2.2011
1.11.2011
1.6.2013
1.6.2007
Wollen Sie sich sicher sein, dass Sie nur die gültigen technischen Vorschriften verwenden?
Wir bieten Ihnen Lösungen, damit Sie immer nur die gültigen (aktuellen) legislativen Vorschriften verwenden könnten.
Brauchen Sie mehr Informationen? Sehen Sie sich diese Seite an.
Letzte Aktualisierung: 2025-01-16 (Zahl der Positionen: 2 219 847)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.