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BSi – die Gesellschaft BSi British Standards ist eine nationale Standardisierungsbehörde in Großbritannien (NSB) und als solche war sie die erste in der Welt. Sie vertritt wirtschaftliche und gesellschaftliche Interessen von Großbritannien in allen europäischen und internationalen Standardisierungsorganisationen auch im Rahmen der Entwicklung neuer Lösungen von betrieblichen Informationen für britische Organisationen aller Größen und Branchen. Die Gesellschaft BSi British Standards arbeitet mit Produktionsindustrie sowie mit Dienstleistungsindustrie, mit Betrieben, Regierungen und Verbrauchern zusammen, um die Bildung der britischen, europäischen und internationalen Normen zu erleichtern. Ein Bestandteil der Organisation BSI Group, die Gesellschaft BSI British Standards, arbeitet mit der Regierung Großbritanniens eng zusammen, insbesondere mittels der Abteilung für Innovationen, Universitäten und Fertigkeiten (DIUS).
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Neutron irradiation.
UNGÜLTIG herausgegeben am 29.6.2004
Ausgewählte Ausführung:Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Ionizing radiation (total dose).
UNGÜLTIG herausgegeben am 7.7.2004
Ausgewählte Ausführung:Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Resistance of plastic-encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat.
UNGÜLTIG herausgegeben am 7.7.2003
Ausgewählte Ausführung:Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat.
UNGÜLTIG herausgegeben am 31.1.2010
Ausgewählte Ausführung:Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Solderability.
UNGÜLTIG herausgegeben am 5.12.2005
Ausgewählte Ausführung:Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Human body model (HBM).
UNGÜLTIG herausgegeben am 29.9.2006
Ausgewählte Ausführung:Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Human body model (HBM).
UNGÜLTIG herausgegeben am 30.6.2014
Ausgewählte Ausführung:Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Charged device model (CDM). Device level.
UNGÜLTIG herausgegeben am 10.7.2017
Ausgewählte Ausführung:Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Latch-up test.
UNGÜLTIG herausgegeben am 29.6.2004
Ausgewählte Ausführung:Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. External visual examination.
UNGÜLTIG herausgegeben am 17.9.2002
Ausgewählte Ausführung:Letzte Aktualisierung: 2024-09-27 (Zahl der Positionen: 2 350 600)
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