Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 2: Niedriger Luftdruck. (Text-Standard ist nicht Teil einer Kopie).
NORM herausgegeben am 1.4.2003
Bezeichnung normen: ČSN EN 60749-2
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 66854
Ausgabedatum normen: 1.4.2003
SKU: NS-158212
Zahl der Seiten: 4
Gewicht ca.: 12 g (0.03 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN
Tato část normy IEC 60749 popisuje zkoušení nízkého tlaku vzduchu na polovodičových součástkách. Zkouška je určena především ke stanovení způsobilosti částí a materiálů součástek vyhnout se poruchám průrazem napětí, způsobeným snížením dielektrické pevnosti vzduchu a jiných dielektrických materiálů při snížených tlacích. Tato zkouška je vhodná pouze pro součástky u nichž pracovní napětí přesahuje 1 000 V.
Tato zkouška je vhodná pro všechny polovodičové součástky, za předpokladu, že jejich pouzdra patří mezi typy s dutinou. Zkouška je určena pouze pro součástky používané pro vojenské a kosmické účely. Obecně je tato zkouška nízkým tlakem vzduchu v souladu s IEC 60068-2-13, ale vzhledem ke specifickým požadavkům polovodičů, platí články této normy.
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 2: Nízký tlak vzduchu. (Norma přebírající anglický originál, vlastní text je součástí výtisku).
Korrektur herausgegeben am 1.4.2007
Ausgewählte Ausführung:1.12.2004
1.6.2004
UNGÜLTIG
1.3.2007
1.3.2007
1.12.2011
UNGÜLTIG
1.8.2005
Letzte Aktualisierung: 2024-11-22 (Zahl der Positionen: 2 206 568)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.