Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 34: Leistungszyklen. (Nur in Englisch, ist der Text Teil einer Kopie).
NORM herausgegeben am 1.9.2011
Bezeichnung normen: ČSN EN 60749-34-ed.2
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 88988
Ausgabedatum normen: 1.9.2011
SKU: NS-158238
Zahl der Seiten: 24
Gewicht ca.: 72 g (0.16 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN
Tato norma popisuje zkušební metodu, která se používá pro stanovení odolnosti polovodičové součástky vůči tepelnému a mechanickému namáhání při cyklování. Tepelné namáhání je způsobeno vyzařováním tepla z polovodičového čipu a vnitřních spojení. Toto nastává, pokud jsou periodicky aplikovány budicí proudy tekoucí v propustném směru (zatěžovací proudy). Tyto proudy způsobují podstatné změny teploty. Účelem výkonové cyklické zkoušky je simulovat typické aplikace při používání ve výkonové elektronice a zkouška je doplňkem k životnosti při vysoké teplotě (viz. IEC 60749-23). Realizace této zkoušky nemusí vyvolávat stejné poruchové mechanismy jako teplotní cyklování vzduch-vzduch, anebo rychlou změnou teploty, kterou používá metoda použití lázně s dvěma kapalinami. Tato zkouška způsobí opotřebení a je považována za destruktivní.
POZNÁMKA: Záměrem této specifikace není stanovit prognózy pro model životnosti
UNGÜLTIG
1.8.2005
1.12.2003
1.12.2003
1.12.2004
1.5.2007
1.12.2003
Letzte Aktualisierung: 2024-11-27 (Zahl der Positionen: 2 209 730)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.