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ČSN EN 60749-35 (358799)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 35: Akustische Mikroskopie für elektronische Bauteile mit Kunststoff umspritzt. (Nur in Englisch, ist der Text Teil einer Kopie).
NORM herausgegeben am 1.5.2007
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ČSN EN 60749-35
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 78450
Ausgabedatum normen: 1.5.2007
SKU: NS-158240
Zahl der Seiten: 48
Gewicht ca.: 144 g (0.32 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN
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Die Annotation des Normtextes ČSN EN 60749-35 (358799):
Tato část souboru norem IEC 60749 popisuje postupy pro provádění akustické mikroskopie na elektronických součástkách zapouzdřených do plastu. Poskytuje návod na používání akustické mikroskopie pro detekci anomálií (delaminace, praskliny, dutiny v zalévací hmotě atp.). Metoda je reprodukovatelná, nedestruktivní. Přejímaná EN 60749-35 představuje 2 strany anglického textu a 43 stran anglického a francouzského textu normy IEC
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