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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 35: Akustische Mikroskopie für elektronische Bauteile mit Kunststoff umspritzt. (Nur in Englisch, ist der Text Teil einer Kopie).
NORM herausgegeben am 1.5.2007
Bezeichnung normen: ČSN EN 60749-35
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 78450
Ausgabedatum normen: 1.5.2007
SKU: NS-158240
Zahl der Seiten: 48
Gewicht ca.: 144 g (0.32 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN
Tato část souboru norem IEC 60749 popisuje postupy pro provádění akustické mikroskopie na elektronických součástkách zapouzdřených do plastu. Poskytuje návod na používání akustické mikroskopie pro detekci anomálií (delaminace, praskliny, dutiny v zalévací hmotě atp.). Metoda je reprodukovatelná, nedestruktivní. Přejímaná EN 60749-35 představuje 2 strany anglického textu a 43 stran anglického a francouzského textu normy IEC
UNGÜLTIG
1.4.2008
1.1.2008
1.12.2011
1.10.2010
1.12.2010
1.9.2013
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Letzte Aktualisierung: 2024-11-22 (Zahl der Positionen: 2 206 568)
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