Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36: Acceleration, steady state
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 36: Konstante Beschleunigung. (Nur in Englisch, ist der Text Teil einer Kopie).
NORM herausgegeben am 1.12.2003
Bezeichnung normen: ČSN EN 60749-36
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 69113
Ausgabedatum normen: 1.12.2003
SKU: NS-158241
Zahl der Seiten: 16
Gewicht ca.: 48 g (0.11 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN
Tato část IEC 60749 používá zkoušku k určení vlivů stálého zrychlení na typy polovodičových součástek s dutinou. Je to zrychlená zkouška, navržená ke zjištění typů strukturálních a mechanických slabin, které jsou ne vždy zjistitelné zkouškou údery a vibracemi. Tato zkouška se může použít jako zkouška s vysokým namáháním (destruktivní), k určení mechanických mezí pouzdra, vnitřního pokovení a systému přívodů, připevnění čipu nebo podložky a dalších prvků mikroelektronické součástky. Když byly stanoveny meze vlastního namáhání, může se tato zkušební metoda využít jako nedestruktivní přímé stoprocentní třídění ke zjištění a vyřazení součástek, s nižší mechanickou pevností než je obvyklá, v kterémkoliv strukturálním prvku. Obecně je zkušební metoda stálým zrychlením v souladu s IEC 60068-2-7, ale vzhledem ke specifickým požadavkům polovodičů, platí články této normy.
1.5.2008
1.7.2011
1.12.2010
1.1.2011
1.11.2010
UNGÜLTIG
1.1.2008
Letzte Aktualisierung: 2025-04-17 (Zahl der Positionen: 2 197 070)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.