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ČSN EN 62374 (358768)
Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Testen zeitabhängige dielektrische Durchschlags Tore. (Nur in Englisch, ist der Text Teil einer Kopie).
NORM herausgegeben am 1.5.2008
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ČSN EN 62374
Zeichen: 358768
Katalog-Nummer: 80891
Ausgabedatum normen: 1.5.2008
SKU: NS-162087
Zahl der Seiten: 48
Gewicht ca.: 144 g (0.32 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN
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Die Annotation des Normtextes ČSN EN 62374 (358768):
Norma stanovuje metodu pro zkoušení časově závislého průrazu dielektrika hradel (TDDB) a odhad tržní životnosti hradel podle výsledků této zkoušky.
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