Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
Semiconductor devices - Constant current electromigration test
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Konstantstrom-Elektromigrationstest
NORM herausgegeben am 19.5.2010
Bezeichnung normen: IEC 62415-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 19.5.2010
SKU: NS-414598
Zahl der Seiten: 22
Gewicht ca.: 66 g (0.15 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
IEC 62415:2010 describes a method for conventional constant current electromigration testing of metal lines, via string and contacts. La CEI 62415:2010 decrit une methode pour des essais conventionnels delectromigration en courant constant de lignes metalliques, de chaines de trous de liaison et de contacts de trous de liaison.
15.2.1990
17.12.1991
30.12.1988
15.5.1988
18.7.2006
29.9.2010
Wollen Sie sich sicher sein, dass Sie nur die gültigen technischen Vorschriften verwenden?
Wir bieten Ihnen Lösungen, damit Sie immer nur die gültigen (aktuellen) legislativen Vorschriften verwenden könnten.
Brauchen Sie mehr Informationen? Sehen Sie sich diese Seite an.
Letzte Aktualisierung: 2024-09-11 (Zahl der Positionen: 2 346 290)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.