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Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)
Automatische name übersetzung:
Bias-Temperatur-Stabilitätstest für Metalloxid-Halbleiter-Feldeffekttransistoren (MOSFET)
NORM herausgegeben am 18.7.2006
Bezeichnung normen: IEC 62373-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 18.7.2006
SKU: NS-414553
Zahl der Seiten: 27
Gewicht ca.: 81 g (0.18 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
Provides a test procedure for a bias-temperature (BT) stability test of metal-oxide semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) Fournit une procedure dessai pour la stabilite de temperature en polarisation (essai BT) des MOSFET (transistor a effet de champ metaloxyde-semiconducteurs)
15.5.1988
29.9.2010
29.3.2007
19.5.2010
26.4.2010
22.4.2010
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Letzte Aktualisierung: 2024-09-11 (Zahl der Positionen: 2 346 290)
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