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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 14: Robustness of terminations (lead integrity)
Automatische name übersetzung:
Halbleitervorrichtungen. Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Teil 14: Stärke des Terminals (Integrität) (IEC STN).
NORM herausgegeben am 1.6.2004
Sprache | |
Realisierung |
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Zugänglichkeit | Der Verkauf wurde beendet |
Preis | AUFANFRAGE ohne MWS |
AUF ANFRAGE |
Bezeichnung normen: STN EN 60749-14
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 95180
Ausgabedatum normen: 1.6.2004
SKU: NS-528292
Zahl der Seiten: 39
Gewicht ca.: 117 g (0.26 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN
UNGÜLTIG
1.10.2003
UNGÜLTIG
1.2.2003
1.12.2011
1.1.2004
UNGÜLTIG
1.2.2003
1.2.2003
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Letzte Aktualisierung: 2024-12-22 (Zahl der Positionen: 2 217 000)
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