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STN EN 60749-19:2003/A1 (358799)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 19: Die shear strength
Automatische name übersetzung:
Halbleitervorrichtungen. Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Teil 19: Scherfestigkeit ( IEC STN).
NORM herausgegeben am 1.12.2010
| Sprache | |
| Realisierung |
|
| Zugänglichkeit | Der Verkauf wurde beendet |
| Preis | AUFANFRAGE ohne MWS |
| AUF ANFRAGE |
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: STN EN 60749-19:2003/A1
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 112186
Anmerkung: Änderung
Ausgabedatum normen: 1.12.2010
SKU: NS-528299
Zahl der Seiten: 4
Gewicht ca.: 12 g (0.03 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN
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STN EN 60749-19 (358799)
Alle technischen Informationen anzeigen
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 19: Die shear strength
Die Norm herausgegeben am 1.11.2003
Ausgewählte Ausführung: Englisch - Gedruckt (AUF ANFRAGE)
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